叠栅MOSFETs的结构设计与研究

时间:2010-09-13来源:网络

2 特性模拟
2.1 阈值电压特性
首先,我们用模拟软件MEDICI仿真了叠栅MOSFET与单栅MOSFET的阈值电压,对仿真结果做比较,将不同沟道长度阈值电压特性以及阈值电压的变化率展现出来。所用的两种结构除了栅结构不同外,其它参数都相同(如沟道掺杂情况、源漏情况、沟长等)。具体掺杂数值如表1,

17b.jpg
为了仿真其阈值电压特性,接法上将源端、衬底接地,漏端加一个较小电压VDS=0.10V,单栅氧化层厚度tox=2.0×10-6cm,叠栅的两个栅氧化层厚度都是tox=2.0×10-6cm。仿真结果如图2所示。

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关键词: 研究 结构设计 MOSFETs 叠栅

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