OLED光电性能综合测试系统的方案

时间:2011-08-01来源:网络

 3.4 温度测量

  测量过程中,OLED器件的温度随通过器件的电流变化,系统选用红外热电堆传感器A2TPMI334-L5.50AA300非接触式测温。A2TPMI是一种内部集成了专用信号处理电路以及环境温度补偿电路的多用途红外热电堆传感器,这种集成红外传感器模块将目标的热辐射转换成模拟电压,输入到单片机的A/D通道,转换为相应的数字量。

  其主要性能为:灵敏度42mV/mW;响应时间35ms;半功率点响应频率小于4Hz;测量目标温度的范围为-20~300℃。其温度-电压特性如下:

  Tobj=-2.815 56×6+51.719 67×5-386.824 1×4+1 510.241×3-3 267.076×2+3 820.25×-1792.6 (1)式中:Tobj表示目标温度,x 表示相应目标温度下的电压值。

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关键词: OLED 光电性能 方案 综合测试

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