泛华测控参加第六届国际测试自动化与仪器仪表学术会议

时间:2016-10-10来源:电子产品世界

  9月19日~21日,由中国仪器仪表学会和北京信息科技大学主办的“2016第六届国际测试自动化与仪器仪表学术会议”在北京召开,泛华受邀携便携式测试平台(TU-9106)及助力于智慧研究所的测试数据管理平台(Data On Demand)参加活动,并做题为《打造智慧研究所的关键技术》的演讲。

关键词: 泛华测控 自动化

加入微信
获取电子行业最新资讯
搜索微信公众号:EEPW

或用微信扫描左侧二维码

相关文章

查看电脑版