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　　SDOlo和ALERTlo菊花链连接沿菊花链向下传递数据，因此这些引脚上的22 pF电容端接于下一个器件的VDD引脚。使用一条低阻抗走线将下一个器件的VDD与上一个器件的VSS直接相连，使这两个电位在高噪声环境下尽可能接近。

　　隔离栅处的接地护栏用于围住PCB左侧构成的低压端。该护栏由通过过孔系在一起的保护环组成，连接到板上所有层的数字地。到达电路板边缘的电源层与接地层上的噪声可能会辐射，但采用这种屏蔽结构时，噪声会被反射回来。

　　当驱动电流源跨过接地层之间的间隙时，也可能产生输入至输出的偶极子辐射。为将这种效应降至最小，隔离间隙处使用一个连续的屏蔽体，从而将接地层扩展至PCB的所有层上，以利用屏蔽重叠部分构成跨隔离栅耦合。各层上的隔离间隙保持最小，测试板使用0.008英寸的间隙。有关isoPower.器件（如本电路所用的ADuM5404）辐射控制的更多建议，请参阅应用笔记AN-0971.

　　测试结果

　　衡量该电路性能的一个重要指标是最终输出电压测量结果中的噪声量。

　　图6所示为VIN3.VIN2通道的10,000个测量样本的直方图。该数据是利用连接到EVAL-SDP-CB1Z系统演示平台（SDP-B）评估板的CN0235评估板获得的。设置详情参见本电路笔记的“电路评估与测试”部分。

　　已将12个锂离子电池连接到输入螺纹接线端子。注意，只有一小部分码字受噪声影响而落在主仓之外。图6和图7所示为对应于大约0.5 LSB rms的3 LSB峰峰噪声。

　　有关本电路笔记的完整设计支持包，请参阅www.analog.com/CN0235-DesignSupport

　　图6. 10,000样本的码字直方图（器件0的VIN4 - VIN3）

　　图7. 10,000样本的直方图（器件1的VIN4 - VIN3）

　　常见变化

　　经验证，该电路能够稳定地工作，并具有良好的精度。利用iCoupler隔离产品，可以实现其它的隔离通道组合。

　　电路评估与测试

　　本电路使用EVAL-CN0235-SDPZ电路板和EVAL-SDP-CB1Z系统演示平台（SDP-B）评估板。这两片板具有120引脚的对接连接器，可以快速完成设置并评估电路性能。EVAL-CN0235-SDPZ板包含要评估的电路，如本笔记所述。SDP-B评估板与CN0235评估软件一起使用，可从EVAL-CN0235-SDPZ电路板获取数据。

　　设备要求

　　带USB端口的Windows. XP、Windows Vista.（32位）或。 Windows. 7（32位）PC

　　EVAL-CN0235-SDP. Z电路评估板

　　EVAL-SDP-CB1. Z SDP-B评估板

　　CN0235 SDP评估软件。

　　电源：+6 V或+6 V“壁式电源适配器”.

　　锂离子电池或精密直流电源。

　　开始使用

　　将CN0235评估软件光盘放进PC的光盘驱动器，加载评估软件。打开“我的电脑”,找到包含评估软件的驱动器。

　　功能框图

　　电路功能框图参见本电路笔记的图1,电路原理图参见“EVAL-CN0235-SDPZ-SCH-RevA.pdf”文件。此文件位于CN0235设计支持包中。

　　设置

　　EVAL-CN0235-SDPZ电路板上的120引脚连接器连接到EVAL-SDP-CB1Z （SDP-B）评估板上标有“CON A”的连接器。应使用尼龙五金配件，通过120引脚连接器两端的孔牢牢固定这两片板。