EDA环境衔接测量软件 电子产品开发周期大幅缩短（一）
EDA与测试软件连结而改善设计程序的方法，就是提供更丰富的测量功能。基本上，EDA工具将透过行为模式（Behavioral Model）预测全新设计的行为。可惜的是，固定模式的设计均是透过测量准则进行检验，与检验最终产品所用的测量准则大不相同，因此难以整合已模拟与已测量的资料。目前业界正朝向“从设计到测试共用单一工具链”的一条鞭方法，让工程师可儘早将测量作业带入设计流程。
明导国际（Mentor Graphics）副总裁兼系统层级工程部门经理Serge Leef表示，在衔接EDA工具与测试软件之后，工程师可于产品开发期间同时设计测试工作台，并于设计程序中儘早获得测试报告。由于工程师能同时进行开发与测试结果，而不是像以前必须依序完成作业，因此能大幅缩短设计周期。
先以行动电话的多重模式射频（RF）功率放大器（PA）为例，此类元件的传统设计方式，即使用如AWR Microwave Office的RF EDA工具。透过EDA环境，工程师可透过模拟作业而取得RF特性参数，如效率、增益、1dB压缩点（Compression Point）等，但最终产品所必须满足的RF测量准则，却又是专为行动电话标准（如全球行动通讯系统/增强数据率演进（GSM/EDGE）、宽频分码多工 （WCDMA）、长程演进计画（LTE））所建立。
在此之前，因为测量复杂度的不同，往往须实际测量DUT，才能透过衡量标准（如LTE错误向量幅度（EVM）与邻近通道洩漏比（ACLR））的“标准规格”而取得测量资料。但现在由于EDA软件与自动化软件可衔接，让工程师可于模拟装置上建构EDA环境，进而使用完整的测量演算法。也因为如此，工程师在设计初期即可找出复杂产品或系统相关的问题，亦等于缩短设计时间。
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