基于DAS AD7606的可扩展多通道同步采样数据采集系统(DAS)的布局

时间:2011-01-10来源:网络

  16通道系统的通道间匹配

  在高通道数系统中,良好的通道间和器件间性能匹配可以大大简化校准程序。AD7606器件、模拟输入通道和去耦电容的对称布局有助于多个器件之间的性能匹配。使用公共系统基准电压将能进一步增强系统的匹配性能。图5显示所有输入接地时,用于测量板上16个通道之间性能匹配的电路配置。还有最多7个码的分布直方图,各通道直方图的中心为码0,如图6所示。

  基于16位8通道DAS AD7606的可扩展多通道同步采样数据采集系统(DAS)的布局考虑 (CN0148)

用于测试16通道系统通道间匹配的电路示意图

  图5. 用于测试16通道系统通道间匹配的电路示意图,该系统采用两个AD7606和外部基准电压源ADR421,所有输入接地

图5所示电路的直方图

  图6. 图5所示电路的直方图,显示了使用外部基准电压源ADR421的16通道系统的通道间匹配性能

  AD7606内部基准电压源用作系统基准电压源

  AD7606内置一个2.5 V基准电压源,经过内部放大,它可以为AD7606 ADC提供约4.5 V的缓冲基准电压。在通道间和器件间匹配性能至关重要的高通道数应用中,可以用一个AD7606的内部基准电压源为另一个AD7606器件提供基准电压。在此配置中,U1配置为在内部基准电压下工作,如图7所示。

基于DAS AD7606的可扩展多通道同步采样数据采集系统(DAS)的布局

  图7. 用于测试一个AD7606通道间匹配的电路示意图,使用U1内部基准电压源

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关键词: DAS 数据采集 AD7606 同步采样

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