USB3.0的物理层接收端的测试方法
差分电压摆幅测试
差分电压摆幅测试的目的是验证信号峰峰值是否在0.8-1.2V之间。测试中Device Under Test(简称DUT)需要发送出测试码型CP8(CP是Compliance Pattern的简写，在USB3的物理层测试中，各项测试需要不同的测试码型，USB3.0规范中定义了各种测试码流，USB3.0的芯片厂商提供了软件接口来配置其发送数据的码型)，CP8由50-250个连续的1和50-250个连续的0重复交替组成，而且消除了去加重，其波形相当于50-250分频的时钟。在这些测试中，把USB3.0测试夹具去嵌后测量结果更精确。
去加重比值测试
为了把5Gbps速率的数据传送较远的距离，USB3.0的发送端使用了去加重技术，这项测试可以测量DUT的去加重程度是否满足规范要求(要求在-3dB到-4dB之间)。测试时DUT发送出CP7码流，CP7码型由50-250个连续的1和50-250个连续的0重复交替组成，而且是添加了去加重的信号波形。图3为某USB3.0芯片的去加重测量结果，该芯片采用了-3.47dB的去加重。
图3：某USB3.0芯片的去加重比值测量
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