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同步的双通道EMI接收机，可以保证背景信号能同时被接收机的两个通道分别收到。从而可以将收到的共同具有的背景噪声记录下来并滤除掉，这就创建了一个虚拟的第三个测量通道，这种测量方法可以很真实地反映被测设备的电磁辐射情况。
系统在“消除”背景噪声方面．采用了“时间/频率/相位”同步识别技术，通过相位识别，把背景噪声用傅立叶计算方法剔除掉，并能提取被调制的EUT的信号，也能提取与背景噪声频率一致的EUT信号，见图4(b)所示。
这种测试方法允许背景噪声是不稳定的，如果背景噪声在测试场地是“均匀”的，则测试结果能与标准EMC场地的测试结果保持基本一致。而在实际测试中，“背景噪声均匀”的环境是很容易找到的。
⑶ 定位辐射源的测试
相同频率的两个信号，未必来自同一信号源。在定位辐射源的测试中，通道A接到一个放在EUT附近的远场天线或者电流卡钳，探测EUT产生的电磁干扰，通道B连接一个近场探头。移动通道B的探头，通过两个信号的相关性来确定辐射源的位置。这就意味着即使不同的几个发射器发出同样频率和幅度的信号，系统也可以加以区分，从而准确定位干扰源。
该系统由于能通过“时间/频率/相位”来识别两个天线接收到信号的相关性，所以在EMI定位方面，它能找到真正使远场测试不合格的干扰源位置。找干扰源的时候，一个显示窗口上同时显示远场数据(天线收到的信号)和近场数据(探头收到的信号)，能在产生相同频率的多个位置中找出与远场信号相关联的位置，可以节约大量的时间，能应用于从板级设计一直到系统级设计。

5 EMC诊断实施举例
5.1 借助一些诊断工具进一步定位EMC问题
在通过EMC预测量发现设备(或分系统)的EMC问题后，可以借助一些诊断工具进一步定位EMC问题。这有助于测试(设计)工程师有针对性的提出EMC对策，顺利解决已经发现的EMC问题。以下介绍当前使用比较普遍的84105EM诊断系统。
其系统功能为用于表面电流、插槽、电缆和集成电路的磁场辐射测量。其系统组成是由三EMC分析仪、近场探头和前置预放三部分组成。系统特点：对环境没有特别要求(不需要屏蔽室或暗室)，可测频段宽，测量精度高，只配置了磁场探头，操作简单、价格较低。

5.2 简述电磁故障诊断84105EM故障诊断系统诊断内容与测量配置。
⑴ 诊断目的
针对已经检测出的EMI不合格频率点，采用近场检测的方法进一步定位干扰发生点；针对已经检测出的EMS不合格频率点，进一步定位敏感度薄弱部位。
⑵ 诊断工具
采用安捷伦84105EM电磁兼容诊断系统，该系统由EMC分析仪E7401A(含选件跟踪发生器前置放大器11909A)和近场探头套(含11941A和11940A近场探头)组成，参见图5(a)。

图5 (a) 电磁故障诊断系统测量配置示意图；

(b)为诊断屏蔽壳体上不应有的孔隙部位测量示意

近场探头套所包含的探头11941A的测量频段为9kHz-30MHz，11940A的测量频段为30MHz～1MHz，它们都采用双环设计。探头的两个环天线在平衡/不平衡变换器(简称“巴仑”)合并变为不平衡输出(同轴线采用双环可使它们的电场感应电压分量反相，相互抵消，只保留磁场感应电压分量)。理论分析明在近场探测情况下，电场探头(如单极或偶极振子)不可避免或容性耦合周围的杂散信号，难实现可重复的测量，而环天线的磁场探头有很好的测量可重复性，并可抑制感应的电场，所以本系统采用这种双环结构的磁场探头。
为了进行敏感度测量，可采用E7402A分析仪配置的选件跟踪发生器(1DS)，内置在EHC分析仪中。由于跟踪发生器与测量接收机做成一体，两者的频率保持同步，这比采用单独的扫捅要方便得多，尤其在滤波器传输特性的测量中可大大缩短测量时间。
每个近场探头均用网络分析仪校准，每个探头在其频段的5个频率点测校正系数(dB(uA/m)/uV)，将接收机读数(dB uv)加上此校正系数就得出所测的磁磁场强度(dB(uA/m))。两个近场探头的校正系数已存储在EMC分析仪的ROM中。
⑶ 诊断内容
寻找PCB板的“热点”(即电磁辐射过强的部位)，记录其频率及幅值；寻找PCB的“敏感度空洞”(即电磁敏感度薄弱部位)，记录其频率及幅值；寻找屏蔽壳体上不应有的孔隙部位。图5(b)为诊断屏蔽壳体上不应有的孔隙部位的测量配置示意图。

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关键词： EMC 测试技术 产品质量